Skip to content

CSSNT-UPB

Center for Surface Science and Nanotechnology University POLITEHNICA of Bucharest

  • Prezentare
  • Servicii
  • “Produse”
  • Proiecte
  • Jobs
  • Laboratoare
    • Microscopie Electronica
      • Nano-manipulation System and electrical characterization in situ in the Scanning Electron Microscope (SEM)
      • Microscopie Electronică de Transmisie prin Scanare – Analiză cu Raze X Dispersive de Energie (sistem STEM-EDX)
      • Fascicul de Ioni Focalizat – Microscopie Electronică de Scanare – Analiză cu Raze X Dispersive de Energie (sistem FIB-SEM-EDX)
    • Microscopie de Forta Atomica
      • Microscop Home-Built de forta atomica
      • Sistem complex AFM-SNOM-Micro-Raman-TERS
    • Spectroscopie Micro/Nano Raman si Microscopie Optica
      • Sistem complex AFM-SNOM-Micro-Raman-TERS
      • Microscop Fluorescenta Inversat
      • Micro-Raman
    • Caracterizare structurala si chimica
      • Sistem de difractie raze X – SAXS-USAXS
      • Analizor Termic
      • Nano-manipulation System and electrical characterization in situ in the Scanning Electron Microscope (SEM)
    • Spectrometrie de masa
      • Spectometru de masa pentru Solide, Lichide, Gaze
    • Spectroscopie
      • Spectroscopie FT-IR
      • Spectroscopie UV-Vis-NIR
    • Depuneri Electrochimice micro/nano-structurate
      • Aparat test coroziune
      • XRF
      • Potentiostat-Galvanostat-EIS-ECD
      • Potentiostat-Galvanostat-EIS-QCM
    • Filme subtiri
      • Depuneri Film Langmuir-Blodgett
      • Laser Excimer
      • Matrix-Assisted Pulsed Laser Evaporation (MAPLE) system
      • Sistem Mantis
      • Elipsometru
    • Micro – si Nano- Litografie
      • SEM – EBL
    • Analize Electrice, Optice si Magnetice la temperaturi joase
      • Sistem Cryogen
    • Celule solare, Evaluare si Testare MEMS si cipuri
      • Camera Umiditate Controlata
      • Sistem pentru probe MEMS si cipuri
      • Simulator solar
    • Sinteza de Nanomateriale pe baza de Carbon
      • Camera sinteza Nanomateriale din carbon
      • Matrix-Assisted Pulsed Laser Evaporation (MAPLE) system
    • Preparare Probe
      • Strung si Freza
      • Ghilotina
      • Presa Hidraulica
      • Echipamente Auxiliare
  • Evenimente CSSNT
  • Contact
  • RomânăRomână
    • EnglishEnglish (Engleză)

Studii prin Microscopia de Scanare cu Sondă

Imagistică la Rezoluție Atomică prin AFM

Microscopie de Contact Punctiform

Studii Topografice prin AFM

Microscopie de Forta Magnetica

Măsurarea Razei de Curbură a Vârfului AFM

Micro-/Nano-Zgârieturi

Micro-/Nano-Indentări

Varfuri AFM

  • Nano Dispozitive
  • Nano Materiale
  • Depuneri electrochimice
  • Micro-/Nano-Caracterizari
    • Studii prin Microscopia de Scanare cu Sondă
      • Micro-/Nano-Indentări
      • Măsurarea Razei de Curbură a Vârfului AFM
      • Nanozgarieturi
      • Microscopie de Forță Magnetică
      • Studii topografice prin AFM
      • Microscopie de contact punctiform
      • Imagistică la Rezoluție Atomică prin AFM
      • Varfuri AFM
    • Microscopie Micro-Raman
    • Mapare a Fortei de Adeziune
  • Difractie de electroni pe aur policristalin
  • SNOM
  • Fibre Optice
  • Compozite