Analiză topografică a probei de SWCNTs prin AFM

Imagini Topografice AFM înregistrate pe o probă de SWCNTs: a) 30 x 30 μm2; b) 10 x 10 μm2; c) 3 x 3 μm2

Analiză topografică a filmelor de NiO prin AFM

Imagini Topografice AFM, de 5×5 µm2, înregistrate pe suprafața filmelor de NiO cu o grosime de 250 nm, depuse la diferite puteri RF
Press here to see the publication