Curs avansat de metrologie 10 – 11 December 2026

Descrierea cursului

Cursul avansat de metrologie este un eveniment de formare cu durata de două zile, dedicat metodelor avansate de caracterizare și de măsurare metrologică a materialelor, structurilor și dispozitivelor semiconductoare. Organizat de Centrul de Știința Suprafeței și Nanotehnologie (CSSNT) și găzduit de Universitatea Națională de Știință și Tehnologie POLITEHNICA București, cursul reunește experți care își vor împărtăși cunoștințele și experiența practică cu cercetători, profesori și doctoranzi.

Cursul va aborda tehnici avansate precum SEM-FIB, STEM-EDX-EELS, AFM, AFM-IR, SHG, PL și µRaman, cu accent pe aplicațiile acestora în cercetarea și dezvoltarea din domeniul semiconductorilor.

Participanții vor studia principiile de funcționare, capabilitățile și limitările metodelor de metrologie prezentate, precum și strategiile de măsurare adecvate, interpretarea datelor și sursele frecvente de incertitudine. În cadrul cursului va fi prezentat și modul în care tehnicile complementare de caracterizare pot fi utilizate pentru a răspunde unor întrebări complexe privind materialele și dispozitivele semiconductoare.

Data și locația

Data: 10–11 decembrie 2026 (două zile complete)

Locația: Universitatea Națională de Știință și Tehnologie POLITEHNICA București

Adresa: Splaiul Independenței nr. 313, sector 6, București, România

Programul celor două zile

Ziua 1 — 10 decembrie 2026: Prelegeri despre pregătirea probelor utilizând SEM-FIB și imagistica la scară atomică și nanometrică utilizând STEM-EELS.

Ziua 2 — 11 decembrie 2026: Teme din domeniul științei suprafețelor, inclusiv AFM, AFM-IR, SHG și µRaman.

Sesiunile teoretice vor fi completate de vizite în laboratoare, planificate pentru fiecare modul, oferindu-le participanților posibilitatea de a discuta întrebările legate de propriile cercetări direct cu specialiști din domeniu.

Cui se adresează cursul

Cursul se adresează specialiștilor în cercetare și dezvoltare, cercetătorilor din mediul academic, profesorilor și doctoranzilor care lucrează în domeniul tehnologiilor avansate pentru semiconductori și al proceselor asociate.

Înscriere și informații practice

Participarea este gratuită, însă înscrierea prealabilă este obligatorie. Numărul de locuri este limitat la 30 de participanți.

Termenul-limită pentru înscriere: 1 noiembrie 2026. Înscrierile se pot închide mai devreme, dacă toate locurile sunt ocupate.

Confirmarea înscrierilor: 10 noiembrie 2026.

Înscriere online: Curs avansat de metrologie NanoIC — Formular de înscriere

Participanții își organizează deplasarea și cazarea și suportă costurile aferente. Cheltuielile de deplasare și cazare nu se decontează.

Pentru asistență privind înscrierea sau întrebări de natură organizatorică, puteți scrie la: nanoic.expertcourse@gmail.com

Linia pilot NanoIC

Cursul face parte din activitățile NanoIC dedicate educației, formării și dezvoltării competențelor. Prin aceste activități, NanoIC sprijină comunitatea europeană din domeniul semiconductorilor, oferind cercetătorilor și studenților acces la cunoștințe de specialitate și expertiză practică.

Afișul cursului