English (Engleză)
- Microscopie Electronica
- Microscopie de Forta Atomica
- Spectroscopie Micro/Nano Raman si Microscopie Optica
- Caracterizare structurala si chimica
- Spectrometrie de masa
- Spectroscopie
- Depuneri Electrochimice micro/nano-structurate
- Filme subtiri
- Micro – si Nano- Litografie
- Analize Electrice, Optice si Magnetice la temperaturi joase
- Celule solare, Evaluare si Testare MEMS si cipuri
- Sinteza de Nanomateriale pe baza de Carbon
- Preparare Probe
- Prezentare
- Servicii
- “Produse”
- Proiecte
- Jobs
- Laboratoare
- Microscopie Electronica
- Nano-manipulation System and electrical characterization in situ in the Scanning Electron Microscope (SEM)
- Microscopie Electronică de Transmisie prin Scanare – Analiză cu Raze X Dispersive de Energie (sistem STEM-EDX)
- Fascicul de Ioni Focalizat – Microscopie Electronică de Scanare – Analiză cu Raze X Dispersive de Energie (sistem FIB-SEM-EDX)
- Microscopie de Forta Atomica
- Spectroscopie Micro/Nano Raman si Microscopie Optica
- Caracterizare structurala si chimica
- Spectrometrie de masa
- Spectroscopie
- Depuneri Electrochimice micro/nano-structurate
- Filme subtiri
- Micro – si Nano- Litografie
- Analize Electrice, Optice si Magnetice la temperaturi joase
- Celule solare, Evaluare si Testare MEMS si cipuri
- Sinteza de Nanomateriale pe baza de Carbon
- Preparare Probe
- Microscopie Electronica
- Evenimente CSSNT
- Contact
Română