![]()
|
||
| COMUNICAT ÎNCEPUT PROIECT | ||
| Tehnologie CMOS de 14 Angstrom acronim 14ACMOS, contract de finantare nr. G 2025-54059/390013/12.05.2025, cod SMIS2021: 338315 |
||
| Universitatea Națională de Știință și Tehnologie POLITEHNICA București, cu sediul în Splaiul Independenței nr. 313, sector 6, București derulează în perioada 12.05.2025 – 11.05.2026, proiectul Tehnologie CMOS de 14 Angstrom acronim 14ACMOS, contract de finantare nr. G 2025-54059/390013/12.05.2025, cod SMIS2021: 338315, cofinanțat de Uniunea Europeană prin Programul Creștere Inteligentă, Digitalizare și Instrumente Financiare (POCIDIF 2021-2027), Prioritatea 1. Susținerea și promovarea unui sistem de CDI atractiv și competitiv în România, Obiectiv Specific: OS a(i) Dezvoltarea și îmbunătățirea capacităților de cercetare și inovare și adoptarea de tehnologii avansate, Acțiunea 1.3: Integrarea ecosistemului național CDI în Spațiul de Cercetare European și internațional, Măsura 1.3.1 Finanțarea proiectelor care vizează sinergii cu acțiunile HE și alte programe europene, Apel de proiecte: Finanțarea proiectelor care vizează sinergii cu acțiunile Orizont Europa și alte programe europene. | ||
Obiectivul general al proiectului 14ACMOS este de a explora și realiza soluții pentru tehnologia de fabricare a cipurilor CMOS de 14 Angstrom, abordând: Litografie, Metrologie, Infrastructură de măști și tehnologie de proces. Obiectivele specifice ale proiectului sunt: Perioada de implementare a proiectului este de 12 luni, respectiv de la data de 12 mai 2025 până la data de 11 mai 2026. Valoarea totală a proiectului este de 8.807.641,50 lei, din care asistența financiară nerambursabilă este de 8.807.641,50 lei, din care FEDR 3.523.056,60 lei. |
||
| Date de contact: Nume persoană contact: ENĂCHESCU Marian Funcție: Director de proiect Tel./Fax: 0752003044, e-mail: marius.enachescu@cssnt-upb.ro |
||
| “Proiect cofinanțat de Uniunea Europeană” | ||
- Prezentare
- Servicii
- “Produse”
- Proiecte
- Jobs
- Laboratoare
- Microscopie Electronica
- Nano-manipulation System and electrical characterization in situ in the Scanning Electron Microscope (SEM)
- Microscopie Electronică de Transmisie prin Scanare – Analiză cu Raze X Dispersive de Energie (sistem STEM-EDX)
- Fascicul de Ioni Focalizat – Microscopie Electronică de Scanare – Analiză cu Raze X Dispersive de Energie (sistem FIB-SEM-EDX)
- Microscopie de Forta Atomica
- Spectroscopie Micro/Nano Raman si Microscopie Optica
- Caracterizare structurala si chimica
- Spectrometrie de masa
- Spectroscopie
- Depuneri Electrochimice micro/nano-structurate
- Filme subtiri
- Micro – si Nano- Litografie
- Analize Electrice, Optice si Magnetice la temperaturi joase
- Celule solare, Evaluare si Testare MEMS si cipuri
- Sinteza de Nanomateriale pe baza de Carbon
- Preparare Probe
- Microscopie Electronica
- Evenimente CSSNT
- Contact
Română
