DESCRIERE:
Modelul HD2700 de la Hitachi este un microscop electronic de transmisie prin scanare (STEM) combinat cu capacitatea de imagistică în modul electroni secundari (SEM). Este un sistem complex, capabil să efectueze analize imagistice și morfologice/topografice în trei moduri diferite, și anume: modul electroni secundari (SEM), contrast de fază ZC și modul de transmisie prin scanare (STEM). Rezoluția atomică în modul SEM este de 0,5 nm, iar în modul STEM este de 0,14 nm.

Sistemul dispune de o sursă de electroni cu emisie de câmp rece (C-FEG) și poate funcționa la diferite tensiuni de accelerare: 80, 120 și 200 kV. Este echipat cu un detector EDS de la Oxford Instruments, modelul X-MaxN 100 TLE, având o suprafață a detectorului de 100 mm² și acoperind 2 steradii, pentru a asigura analiza elementelor din probe.

În plus, configurația instrumentului și accesoriile care permit utilizarea dispozitivului criogenic (suport cryo-transfer cu dublă înclinare 915 Gatan cu azot lichid) califică STEM-ul pentru analize criogenice fiabile pe materiale sensibile.

Nanodifracție
Studierea structurii nanoparticulelor, în funcție de dimensiunea acestora, necesită o corelare între imagine și modelul de difracție al nanoparticulelor individuale. Tehnica de difracție cu fascicul nano poate identifica structura cristalină la nivel nanometric, chiar și atunci când nanoparticulele sunt orientate aleatoriu pe un substrat amorf.

Nanol difracție a unei nanoparticule de aur monocristalină.

Rază X Dispersivă de Energie – EDX
EDX este o tehnică analitică utilizată pentru analiza elementară sau caracterizarea chimică a unei probe. Echipamentul este dotat cu unul dintre cele mai mari detectoare cu derivație de siliciu (SDD) disponibile pe piață, având o suprafață de 100 mm² pentru nano-analize avansate și oferind o viteză de procesare de peste dublu față de orice alt detector.

Beneficiile SDD includ:

  1. Rată ridicată de numărare și procesare
  2. Rezoluție mai bună decât detectoarele tradiționale Si (Li) la rate mari de numărare
  3. Timp mort redus (timpul petrecut pentru procesarea evenimentelor X-ray)
  4. Capacități analitice mai rapide și hărți X-ray sau date particulare mai precise, colectate în câteva secunde
  5. Capacitatea de a funcționa la temperaturi relativ ridicate, eliminând necesitatea răcirii cu azot lichid

Tipuri de analiză:
• Caracterizarea chimică și structurală a nanomaterialelor;
• Investigații privind structura semiconductoarelor;
• Nanomateriale organice/biologice.

Detalii Tehnice

Camere/Detectoare:
• Dispozitiv cu cuplare de sarcină (cameră CCD de la Hitachi cu 30 cadre/s)
• Detectoare: Dark Field în inel cu unghi mare (HAADF), Bright Field (BF) și detectoare pentru electroni de suprafață (SE)
• EDX

Suporturi:
• Suport cu înclinare unică și suport cu dublă înclinare
• Suport criogenic (LN2)